BGA200 LPDDR LPDDR4 LPDDR4x 测试 BGA200 FT测试

BGA200 LPDDR4 测试盒

BGA200 LPDDR4 测试盒用于BGA200芯片的功能测试测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等

引脚数： 200

YCTC：

间距： 0.65mm

BGA200 LPDDR 测试盒

基于BGA200的FT级测试平台；

用于BGA200 LPDDR4 或LPDDR4x的功能测试盒；

测试软件中采用了优良的算法，测试稳定可靠；

用于美光，三星，及国内各大厂家的BGA200 LPDDR 芯片测试

测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

提供3款不同容量的测试盒，分别为 2GB, 3GB, 4GB；
超低压core 和I/O 供电：
- VDD1 = 1.70~1.95V; 1.80V 名义值
- VDD2 = 1.06~1.17V; 1.10V 名义值
- VDDQ = 0.57~0.65V; 0.60V 名义值
或 VDDQ = 1.06~1.17V; 1.10V n名义值
频率范围 - 1866~10MHz (每pin速率范围: 3733~20 Mb/s)
2GB容量的芯片测试时间为15~20分钟，3GB和4GB的芯片测试时间更长；
自带屏幕，显示即时测试状态，和测试结果；
测试操作简便，直接通过Type C接头加上电就可测试，维护容易；
支持热插拔。

机械性能

测试座材料：　AL, PEI

座头材料：　　AL, PEI

接触类型： PCR导电胶

工作温度：　　-25~ 85度

接触寿命： 5万次

弹簧弹力：　　20g ~ 30g 每Pin

电性能

额定电流：　　2A

DC电阻： <100毫欧

BGA200 LPDDR 测试盒
BGA200 LPDDR 测试盒用于BGA200芯片的功能测试；用于智能手机，平板电脑，智能电脑，机顶盒，智能音箱，行车记录仪，智能摄像头等的BGA200封装的芯片，均可以采用此测试盒进行FT测试；测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等；如果您对 BGA200 LPDDR测试盒感兴趣，或有疑问，欢迎发送邮件至：sales@sireda.com. 欢迎来询！

BGA200 LPDDR 测试盒

BGA200 LPDDR 测试盒用于BGA200芯片的功能测试；

用于智能手机，平板电脑，智能电脑，机顶盒，智能音箱，行车记录仪，智能摄像头等的BGA200封装的芯片，均可以采用此测试盒进行FT测试；
测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等；
如果您对 BGA200 LPDDR测试盒感兴趣，或有疑问，欢迎发送邮件至：sales@sireda.com. 欢迎来询！

Sireda Technology|Test Socket|test fixture

BGA200 LPDDR4 测试盒

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