Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

M.2 接口测试座

M.2 接口的SSD测试座采用了全新的零插拨力的夹紧方式，将M.2放入和取出测试座时M.2的金手指不受力，从而避免了金手指的刮伤。该测试座还具有高精度的夹紧力，可以确保测试信号的稳定性和可靠性。此外，该测试座还支持自动化测试，可以提高测试效率和准确性。

引脚数： 67
YCTC：
间距： 0.5mm

详细信息

M.2接口SSD测试座

ZIF结构设计，保护SSD的金手指不受划伤；
顶窗式结构，结构精简，取放方便；
结构小巧，占空间小，便于量产；
弹片式结构，导电体短，电阻小，可以实现高速传输；

斯纳达

SSD测试座尺寸

斯纳达

斯纳达

支持不同规格的M.2固态硬盘，如2242、2260、2280等；
采用全新夹紧结构，能够平稳夹紧金手指，不会对金手指造成损伤；
支持自动测试平台.

机械性能

测试座材料：　铍铜，PEI, FR4 ESD

探针类型：弹片探针

工作温度：　　-40 ~ 150℃

使用寿命： >10万次

电性能

使用频率：　　 7GHz以上

设计阻抗： <=50Ω

如需提供定制化的测试治具方案，请联系sales@sireda.com

标签: M.2 SSD测试座 SSD测试座 SSD测试

新型M.2接口测试座亮相！金手指不再受伤！

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