Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

PGA测试座

PGA测试座用于用于PGA(Pin Grid Array) 封装芯片的测试,使用插拔方式,更换和维护很方便。

  • 引脚数: 60 或以上
  • YCTC:
  • 间距: 0.8mm或以上

PGA测试座

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1498021773838812.gif适用于PGA封装的芯片测试

1498021773838812.gif最大电流可达3A

1498021773838812.gif适用于间距0.8mm及以上产品

1498021773838812.gif插拔寿命100次以上


测试座|测试治具|芯片植球|

     PGA359测试座(母座)


测试座|测试治具|芯片植球|

    PGA359测试座(公座)


    测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|


  







    PGA482 VR Test Tool Interposer

测试座|测试治具|芯片植球|

                PGA359 测试座 (公母座) 尺寸图


测试座|测试治具|芯片植球|

            PGA482 测试座 (公母座) 尺寸图

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  • 用于PGA封装芯片的测试

  • 插入式操作,更换简便,可靠性高;

  • 可用于频率较高应用的测试;

  • 母座一般通过锡球焊接至PCB上;

  • GEN5 VRTT Test Tool Interposer 转接座;

  • 可根据客户的需求,定制PGA公座或母座;

  • 也可配合客户定制转接板,配合PGA测试座的使用。

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机械性能

测试座材料: FR4

探针类型:       铜PIN

工作温度:  -55 ~ 125度

插拔寿命:        >100次

插入力:      ~ 30g 每Pin

拔出力:           >10g每Pin


电性能

额定电流:  3A

DC电阻:          20毫欧(最大)


产品编码名称描述封装引脚数材质备注
702-0000897Test SocketPGA359 1.27 26.7x26.7mm MalePGA359FR4

702-0001358Test SocketPGA482 1.27mm 30.5x30.5mm Male & FemalePGA482FR4
702-0001518Test SocketPGA482 1.27mm 30.5x30.5mm FemalePGA482FR4
702-0001819Test SocketPGA359 1.27mm 26.7x26.7mm FemalePGA359FR4
702-0001994Test SocketPGA324 1.0mm 19x19mm FemalePGA324FR4

提供PGA测试座,需更多PGA测试座的信息,请联系我们:sales@sireda.com.