Support: PCIe Gen4 and SAS4.0
English English
  1. 你的位置
  2. 网站首页
  3. 产品展示
  4. 测试接头
USB 测试转接头

USB 测试转接头

用于Micro USB, USB Type C, USB3.0等的功能测试，老化测试和自动化测试；使用寿命长，可达15000次以上

  • 引脚数： 4~24
  • YCTC：
  • 间距： 0.5mm

USB 测试转接头

Line.png

1498021773838812.gifMicro USB, Type C, USB3.0 等的测试转接插头

1498021773838812.gif比市面上销售的此类接头寿命长很多

1498021773838812.gif可用于功能测试，老化测试和自动化测试

1498021773838812.gif方便维护与更换



Micro USB 5 PIN - I.jpg









704-0000045 Micro USB  5 PIN 用于母头测试 -

USB Type-C 24 PIN.jpg


704-0000293 USB Type-C for Female M







Micro USB 5 PIN - 2.jpg

 704-0000070 Micro USB  5 PIN 用于母头测试 - II





          Sireda Technology|Test Socket|test fixture








704-0000356 USB3.0 A Male


1503280439935046.jpg

  • 用于Micro USB, USB Type C, USB3.0 等的功能测试，老化测试和自动化测试；

  • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料，磨损低、寿命长；

  • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料，接触电阻小于50毫欧；

  • 使用寿命长，可达15000次以上；

  • 可极大降低维护成本及提高维护效率，无需更换整条USB cable


1503280498569006.jpg

机械性能

接头材料：　   SUS/PEI

接触类型：       铍铜端子

工作温度：　　-40 ~ 125度

接触寿命：        1.5万次


电性能

额定电流：　　1.0A

DC电阻：         <50毫欧



产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
704-0000356测试转接头USB3.0 A Male 45.0mm 180° Cu MUSB3.0 A9 PEI公头
704-0000045测试转接头Micro USB 2.0 Male 180° MMicro USB5 SUS/PEI公头
704-0000070
测试转接头Micro USB 2.0 Male 90° MMicro USB5 SUS/PEI公头
704-0000293测试转接头USB Type-C Male MUSB Type C24 PEI公头

USB测试转接头产品目录，请点击下载

标签: Type C USB Type C 测试转接头 转接插座 USB 测试插座 USB3.0

相关推荐