双扣旋压测试座
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机械性能 测试座材料： Torlon/PPS/PEEK陶瓷 座头材料： AL, POM 探针类型： 弹簧探针 工作温度： -40 ~ 140度 探针寿命： 10万次 弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin 电性能 额定电流： 1A DC电阻： 100毫欧(最大) |
| 产品编码 | 名称 | 描述 | 封装 | 引脚数 | 材质 | 备注 |
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| 702-0000341 | Test Socket | BGA100 0.4mm NA DT 2.35x8.33mm | BGA | 100 | Peek 陶瓷 | |
| 702-0000660 | Test Socket | QFP144 0.65mm SM484245BR DT 26.02x26.02mm | QFP | 144 | Peek 陶瓷 | |
| 702-0000689 | Test Socket | BGA153 0.5mm eMMC DT 11.5x13mm A | BGA | 153 | Peek 陶瓷 | |
| 702-0000908 | Test Socket | BGA272 0.8mm NA DT125 14x18mm | BGA | 272 | Peek 陶瓷 | |
| 702-0000909 | Test Socket | BGA200 0.65mm LPDDR4 DT125 14.5x11mm | BGA | 200 | Peek 陶瓷 |
斯纳达公司提供BGA、LGA、QFN、QFP、SOP等封装的手动自动两用测试座， 更多双扣旋压测试座产品请点击双扣旋压测试座清单。如需了解更多，请联系sales@sireda.com。
